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DNA嵌套缺失试剂盒图片
产品货号:
BTN100213
中文名称:
DNA嵌套缺失试剂盒
英文名称:
DNA Nested Deletion Kit
产品规格:
10次
发货周期:
1~3天
产品价格:
询价
本产品是在Henikoff方法的基础上改良而得。最常见的DNA嵌套缺失方法是利用ExoⅢ等外切酶从线状DNA的一端连续切除核酸,最后环化得到可以转化的质粒。该方法最早由Henikoff在Putney的方法的基础上发明,其流程图如下:
利用ExoⅢ等外切酶从线状DNA的一端连续切除核酸,最后环化得到可以转化的质粒

产品特点:
1.不需要使用超螺旋的质粒和任何限制性内切酶,非常皮实。
2.一站式,用户只需要提供质粒,不需要单独准备其他试剂。
3.一管式,不需要任何纯化和回收的处理。
4.提供阳性对照质粒,便于在遇到困难时分析原因。
5.得到的片段可以用于侧序和蛋白结合位点的分析等试验。

试剂盒组成:
成份规格
DNA聚合Buffer1mL
DNA酶切Buffer1mL
酶切终止Buffer1mL
DNA连接Buffer1mL
T4 DNA聚合酶10μL
T4 DNA Ligase10μL
Exo Ⅲ10μL
S1核酸酶10μL
对照模板质粒10μg
超纯水1mL
使用手册1份


储存条件:低温运输,-20℃保存,有效期一年。

使用效果:
将5μg变性的质粒DNA与特异的引物混合,用T4 DNA聚合酶进行全长合成,然后用ExoⅢ酶切,在不同时间点取样,得到单向酶切产物,然后用绿豆核酸酶去掉单链DNA,最后用DNA连接酶将DNA自身环化,最后转化细菌。
DNA嵌套缺失试剂盒使用效果
图注:用本产品处理含有2.5 KB插入片段的质粒,两边为1Kb DNA marker。中间6条带从左到右分别为ExoⅢ处理0、1、2、3、4和5分钟的DNA(S1核酸酶处理后才上样电泳)
相关搜索:DNA嵌套缺失试剂盒DNA Nested Deletion Kit
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